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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m21b.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador8JMKD3MGP3W34P/3KBF92P
Repositóriosid.inpe.br/mtc-m21b/2015/09.30.16.38   (acesso restrito)
Última Atualização2016:01.06.12.58.21 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/mtc-m21b/2015/09.30.16.38.12
Última Atualização dos Metadados2018:06.04.02.55.44 (UTC) administrator
DOI10.1109/TMTT.2015.2431685
ISSN0018-9480
Chave de CitaçãoHasarKayaBarrErtu:2015:DeReIn
TítuloDetermination of reference-plane invariant, thickness-independent, and broadband constitutive parameters of thin materials
Ano2015
MêsJuly
Data de Acesso21 maio 2024
Tipo de Trabalhojournal article
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho1844 KiB
2. Contextualização
Autor1 Hasar, Ugur C.
2 Kaya, Yunus
3 Barroso de Castro, Joaquim José
4 Ertugrul, Mehmet
Identificador de Curriculo1
2
3 8JMKD3MGP5W/3C9JHFA
Grupo1
2
3 LAP-CTE-INPE-MCTI-GOV-BR
Afiliação1 University of Gaziantep
2 Bayburt University
3 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
4 Ataturk University
Endereço de e-Mail do Autor1 uchasar@gantep.edu.tr
2
3 joaquim.castro@inpe.br
4 ertugrul@atauni.edu.tr
RevistaIEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Volume63
Número7
Páginas2313-2321
Nota SecundáriaA1_ENGENHARIAS_IV A1_ENGENHARIAS_III B1_INTERDISCIPLINAR
Histórico (UTC)2015-09-30 16:38:12 :: simone -> administrator ::
2018-06-04 02:55:44 :: administrator -> simone :: 2015
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Tipo de Versãopublisher
Palavras-ChaveConstitutive parameters
reference-plane invariant
thickness independent
thin samples
ResumoWe propose an effective microwave method for reference-plane-invariant and thickness-independent constitutive parameters measurement of thin materials. A function depending only on the interface reflection coefficient to facilitate fast computations of constitutive parameters is derived. In addition to the extraction of sample thickness, the method can also be applied to unique retrieval of constitutive parameters whose electromagnetic properties are yet unknown. We have performed an uncertainty analysis to examine how the accuracy of the method can be improved. Finally, we have compared the proposed method with other similar methods in the literature using measurements of distilled water and a thinner Plexiglas sample (1 mm). From the comparison, we note that the accuracy of our proposed method is not affected by any inaccurate knowledge of reference-plane positions and the sample length (or both) while those of compared methods are seriously decreased.
ÁreaFISPLASMA
Arranjourlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAP > Determination of reference-plane...
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Conteúdo da Pasta sourcenão têm arquivos
Conteúdo da Pasta agreement
agreement.html 30/09/2015 13:38 1.0 KiB 
4. Condições de acesso e uso
Idiomaen
Grupo de Usuáriossimone
Grupo de Leitoresadministrator
simone
Visibilidadeshown
Política de Arquivamentodenypublisher allowfinaldraft
Permissão de Leituradeny from all and allow from 150.163
Permissão de Atualizaçãonão transferida
5. Fontes relacionadas
Repositório Espelhourlib.net/www/2011/03.29.20.55
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ET2RFS
Lista de Itens Citandosid.inpe.br/bibdigital/2013/09.25.21.49 1
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES; COMPENDEX; IEEEXplore; SCOPUS.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/mtc-m21b/2013/09.26.14.25.20
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyholder copyright creatorhistory descriptionlevel e-mailaddress format isbn label lineage mark nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarykey session shorttitle sponsor subject targetfile tertiarymark tertiarytype url
7. Controle da descrição
e-Mail (login)simone
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